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共模噪声对EMI的影响

大部分传导 EMI 问题都是由共模噪声引起的 。而且，大部分共模噪声问题都是由电源中的寄生电容导致的 。对于该讨论主题的第 1 部分，我们着重讨论当寄生电容直接耦合到电源输入电线时会发生的情况 。
1. 只需几 fF 的杂散电容就会导致 EMI 扫描失败 。从本质上讲，开关电源具有提供高 dV/dt 的节点 。寄生电容与高 dV/dt 的混合会产生 EMI 问题 。在寄生电容的另一端连接至电源输入端时，会有少量电流直接泵送至电源线 。
2. 查看电源中的寄生电容 。我们都记得物理课上讲过，两个导体之间的电容与导体表面积成正比，与二者之间的距离成反比 。查看电路中的每个节点，并特别注意具有高 dV/dt 的节点 。想想电路布局中该节点的表面积是多少，节点距离电路板输入线路有多远 。开关 MOSFET 的漏极和缓冲电路是常见的罪魁祸首 。
3. 减小表面面积有技巧 。试着尽量使用表面贴装封装 。采用直立式 TO-220 封装的 FET 具有极大的漏极选项卡 (drain tab) 表面面积，可惜的是它通常碰巧是具有 dV/dt 的节点 。尝试使用表面贴装 DPAK 或 D2PAK FET 取代 。在 DPAK 选项卡下面的低层 PCB 上安放一个初级接地面板，就可良好遮蔽 FET 的底部，从而可显著减少寄生电容 。
有时候表面面积需要用于散热 。如果您必须使用带散热片的 TO-220 类 FET，尝试将散热片连接至初级接地（而不是大地接地） 。这样不仅有助于遮蔽 FET，而且还有助于减少杂散电容 。
4. 让开关节点与输入连接之间拉开距离 。见图 1 中的设计实例，其中我忽视了这个简单原则 。
图 1. 让输入布线与具有高 dV/dt 的节点靠得太近会增加传导 EMI 。
我通过简单调整电路板（无电路变化），将噪声降低了大约 6dB 。见图 2 和图 3 的测量结果 。在有些情况下，接近高 dV/dt 进行输入线路布线甚至还可击坏共模线圈 (CMC) 。
图 2. 从电路板布局进行 EMI 扫描，其中 AC 输入与开关电路距离较近
 
【共模噪声对EMI的影响】图 3. 从电路板布局进行 EMI 扫描，其中 AC 输入与开关电路之间距离较大
您是否有过在显著加强输入滤波器后 EMI 改善效果很小甚至没有改善的这种遭遇？这很有可能是因为有一些来自某个高 dV/dt 节点的杂散电容直接耦合到输入线路，有效绕过了您的 CMC 。为了检测这种情况，可临时短路 PCB 上 CMC 的绕组，并将一个二级 CMC 与电路板的输入电线串联 。如果有明显改善，您需要重新布局电路板，并格外注意输入连接的布局与布线 。

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